Sistema económico para medir el espesor del recubrimiento

Bowman, agregó una serie G a sus sistemas de medición de placas XRF para el análisis de la solución y espesor del recubrimiento.

El fabricante de instrumentos de control de calidad de fluorescencia de rayos X (XRF) Bowman, agregó una serie G a sus sistemas de medición de placas XRF para el análisis de la solución y espesor del recubrimiento.

Esta serie está diseñada para analizar joyas, sujetadores y otros metales preciosos, ya que puede cuantificar el zinc, zinc-níquel y otros recubrimientos anticorrosivos. Dos de sus características son la medición “de abajo hacia arriba” utilizando un eje Z motorizado con enfoque automático basado en láser e imágenes de video de precisión, y una plataforma XY manual con recorrido de 1.5” x 1.5” que permite medir piezas grandes y pequeñas.

La configuración estándar incluye un colimador fijo único, un detector de PIN de estado sólido y un tubo de rayos X de microfoco de larga duración. Como todos los modelos Bowman, los componentes pueden actualizarse para incluir colimadores múltiples, cámara focal variable o detector SDD.

Estos instrumentos pueden medir simultáneamente hasta cinco capas de recubrimiento con 10 elementos en cada capa para un total de 25 elementos. El rango del elemento es Al (13) a través de U (92).

El sistema funciona con el software Xralizer, que combina controles con accesos directos que ahorran tiempo, capacidad de búsqueda extensa e informes de un solo clic. Un producto ideal para laboratorios y entornos de producción con espacios y presupuestos limitados.

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