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Beneficios del detector de alta resolución en un analizador de Fluorescencia de Rayos X

Si se pregunta cuándo cambiar su XRF a un modelo más nuevo con un detector de alta resolución, aquí tiene algunos consejos.

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Pregunta: ¿Debo cambiar mi equipo de Fluorescencia de Rayos X (XRF) a uno con detector de alta resolución?

Respuesta: Los analizadores XRF típicos tienen 10 años, por lo que puede que la última vez que compró uno las opciones hayan sido muy limitadas, si las hubo. Así, usted escogió el instrumento con el mejor desempeño y funciones que se ajustaban a su presupuesto y requisitos de tamaño de muestra.

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El detector más común hace 10 años era uno de contador proporcional (PC) con gas. En la última década, la tecnología XRF ha avanzado para incluir innovaciones como los detectores de estado sólido o semiconductores: diodos PIN y Detectores por Deriva de Silicio (SDD). Éstos ofrecen beneficios adicionales para las aplicaciones más avanzadas. Incluso si compró un instrumento hace algunos años, es posible que sus requerimientos hayan cambiado o puedan cambiar en el futuro, por lo que debe entender cuándo es momento de cambiar a un detector de alta resolución. Aquí algunas consideraciones clave:

Cuando hay muchos elementos o elementos vecinos en la muestra, incluido el revestimiento aleado. Ejemplos: Cr/Ni/Cu/Zn, ZnNi/Fe. Una característica clave de un SDD es la mejor resolución. Así como la televisión de alta definición mejora su capacidad para ver una imagen en movimiento, cuanto más alta sea la resolución del XRF, mayor su capacidad para ver más detalles. Con el XRF, el detector es responsable de reconocer las pequeñas diferencias de energía y determinar los elementos presentes. Un detector PC tiene una resolución pobre en comparación y no puede ver las señales de elementos vecinos. Un ejemplo es cuando el zinc se reviste con cobre y níquel. Estos elementos no se pueden ver completamente con un detector PC, por lo que se puede emplear un software de interpretación de combinación espectral y hardware, lo que a veces da como resultado un análisis secuencial. Con un SDD, estos elementos se ven de forma clara y simultánea. Las mediciones se hacen más rápido y con mayor precisión.

Cuando los recubrimientos son delgados, con menos de 10 micropulgadas. Ejemplo: Au/Ni/Cu. Debido al diseño de los detectores de estado sólido, el ruido de fondo es notablemente más bajo que en un detector PC, lo que facilita determinar la señal de los elementos de una señal no deseada. Aunque esto no afecta al medir recubrimientos gruesos, puede ser crítico con los muy finos (menos de 10 micropulgadas). En ese rango, las variaciones en el fondo pueden hacer la diferencia entre un buen análisis y una lectura no detectada. Los detectores de estado sólido tienen un ruido de fondo muy estable y bajo, lo que provee una buena sensibilidad para analizar recubrimientos finos.

Cuando necesite medir el contenido de fósforo en galvanoplastia de níquel autocatalítica y recubrimientos de conversión. Ejemplo: NiP/Al, ZnP/Fe. Los elementos con números atómicos menores a 17 (Cloro) presentan algunos desafíos para los instrumentos de XRF porque no viajan bien por el aire y, cuando pasan de la superficie de la muestra al detector, pierden gran parte de su señal. La sensibilidad, resolución y fondo combinados de un detector de estado sólido hacen posible detectar y cuantificar directamente el fósforo, incluso para capas delgadas de níquel autocatalítico con bajo contenido de fósforo.

La elección del detector puede ser un tema complicado, y existen muchas aplicaciones en las que un detector PC funciona muy bien y puede ser preferible a un diodo PIN o un SDD. Es importante elegir el proveedor de equipos XRF adecuado, quien le consultará y determinará la mejor tecnología para sus necesidades.

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